[发明专利]高频微波印制电路阻抗测试方法

摘要

一种高频微波印制电路阻抗测试方法，主要特点在于：该方法测试步骤如下：(一)测试高频微波印制电路参数：(1)调测试仪的工作频率为10KHz，测试单阻抗线单位长度的损耗电阻R和单位长度的分布电容C及耦合线对的自电容C_SELF、互电容C_M。(2)由步骤(1)所测的电容C和阻抗的名义值Z，根据公式估算出电感值L。(3)把电阻R和电感值L代入公式：，得到要选择的频率。(4)向上靠近选择参数测试仪的工作频率，(5)测试电感L、互电感L_M和自电感L_SELF。(二)计算高频微波印制电路阻抗。和现有技术相比，本发明对差分阻抗的测试具有明显优势，将具有重要的广泛的用途。

主权项

1.一种高频微波印制电路阻抗测试方法，其特征在于：所述测试方法的测试步骤如下：(一)测试高频微波印制电路参数：(1).调节参数测试仪的工作频率为10KHz，测试传输线的单阻抗线单位长度的损耗电阻R和单位长度的分布电容C，并测试耦合线对的每条线的自电容CSELF和两耦合线之间的互电容CM，(2).由步骤(1)所测的单位长度的分布电容C和已知要测阻抗的名义值Z，根据公式$Z=\sqrt{\frac{L}{C}}$ 估算出电感值L，(3).把步骤(1)所测的单阻抗线单位长度的损耗电阻R和由步骤(2)所得到的电感值L代入公式：$f\ge \frac{R}{2.81L}$ ，由之得到要选择的频率，(4).根据步骤(3)所得到的频率，向上靠近选择参数测试仪的工作频率，(5).调节参数测试仪的工作频率为步骤(4)所选择的参数测试仪的工作频率，并测试单阻抗线的单位长度的分布电感L和测试耦合线对的两耦合线之间的互电感LM、每条线的自电感LSELF；(二)计算高频微波印制电路阻抗：(1).把上述步骤(一)中的步骤(1)所得到的单位长度的分布电容C和上述步骤(一)的步骤(5)所得到的单位长度的分布电感L代入$Z=\sqrt{\frac{L}{C}}$ 式中，得到单阻抗线的阻抗Z，(2).把上述步骤(一)中的步骤(1)所得到的耦合线对的每条阻抗线的自电容CSELF和两耦合线之间的互电容CM以及由上述步骤(一)中的步骤(5)所得到的耦合线对的两耦合线之间的互电感LM和每条阻抗线的自电感LSELF 代入$Z_{\mathrm{diff}}={2Z}_{\mathrm{odd}}=2\sqrt{\frac{L_{\mathrm{SELF}}-L_M}{C_{\mathrm{SELF}}+{2C}_M}}$ 式中，得到耦合线对的差分阻抗。