[发明专利]四级光掩模制造方法和其中所使用的光掩模坯料有效

专利信息
申请号: 200710084136.5 申请日: 2007-02-16
公开(公告)号: CN101025564A 公开(公告)日: 2007-08-29
发明(设计)人: 佐野道明 申请(专利权)人: HOYA株式会社
主分类号: G03F1/08 分类号: G03F1/08;G03F1/00;G03F7/00;H01L21/027
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 杨娟奕
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 根据本发明的制造方法,以指定的顺序在透明衬底上形成第一光半透射膜和遮光膜,其由每个都具有对另一个的蚀刻的抗蚀性的材料制成,并且在所述遮光膜上形成有第二光半透射膜,其优选由能够通过与遮光膜的蚀刻相同的蚀刻而被蚀刻的材料制成。因此,通过每个都具有对另一个的蚀刻的抗蚀性的膜和每个都没有对另一个的蚀刻的抗蚀性的膜的组合,可以以减少的采用光刻的写入次数来制造四级光掩模。
搜索关键词: 四级光掩模 制造 方法 其中 使用 光掩模 坯料
【主权项】:
1.一种制造四级光掩模的方法,所述四级光掩模包括遮光部分、光透射部分和具有不同透光率的第一与第二光半透射部分,所述方法包括如下步骤:准备光掩模坯料,其中以指定的顺序在透明的衬底上形成由对彼此的蚀刻具有抗蚀性的材料制成的第一光半透射膜和遮光膜;在所述光掩模坯料的所述遮光膜上形成第一抗蚀图案,所述第一抗蚀图案具有与所述光透射部分和所述第二光半透射部分相对应的敞开区域;使用所述第一抗蚀图案作为掩模来蚀刻所述遮光膜,然后蚀刻所述第一光半透射膜,之后将所述第一抗蚀图案剥除;在所述透明的衬底和所述遮光膜上形成第二光半透射膜;在所述第二光半透射膜上形成第二抗蚀图案,所述第二抗蚀图案具有与所述光透射部分和所述第一光半透射部分相对应的敞开区域;和使用所述第二抗蚀图案作为掩模来蚀刻所述第二光半透射膜和所述遮光膜,然后将所述第二抗蚀图案去除,由此形成所述光透射部分、所述遮光部分、所述第一光半透射部分和所述第二光半透射部分。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于HOYA株式会社,未经HOYA株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710084136.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top