[发明专利]非易失存储器装置和用于其的操作方法无效

专利信息
申请号: 200710084948.X 申请日: 2007-02-16
公开(公告)号: CN101038922A 公开(公告)日: 2007-09-19
发明(设计)人: 金大容;黄相元;朴准镛 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;G11C16/04;G11C16/24;G11C16/14
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 郭定辉;黄小临
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 在一种实施方式中,非易失存储器装置包括在基底中形成的第一传导类型的井,和串联到形成在该井中的位线的第一多个存储器单元晶体管。缓存器形成在该井外的所述基底中并且连接到所述位线。将至少一个去耦晶体管配置为将所述缓存器与所述位线去耦,而且所述去耦晶体管形成在所述井中。
搜索关键词: 非易失 存储器 装置 用于 操作方法
【主权项】:
1.一种非易失存储器装置,包括:在基底上形成的第一传导类型的井;串联到位线并且在该井中形成的第一多个存储器单元晶体管;形成在该井之外的基底中并且连接到该位线的缓存器;和至少一个去耦晶体管,其配置为将所述缓存器与所述位线去耦,所述去耦晶体管形成在该井中。
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