[发明专利]半导体集成电路装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200710085008.2 申请日: 2007-02-28
公开(公告)号: CN101030578A 公开(公告)日: 2007-09-05
发明(设计)人: 池上智朗;西村英敏 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/522;H01L23/528;H01L21/82;H01L21/768;G06F17/50
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 马高平;杨梧
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在一种由具有电路功能的核心单元以及具有电源配线的电源配线单元构成的半导体集成电路装置中,组成电源配线单元的电源配线子单元中的金属呈T形,电源配线子单元相邻配置以形成串列的电源配线。核心单元和电源配线单元通过已预置沿水平方向的坐标的核心单元中的金属配线相连,从而供给电源信号。
搜索关键词: 半导体 集成电路 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体集成电路装置,其包括至少两个电源配线,该至少两个电源配线配置在与布置有逻辑单元的块中的单元列方向一致的第一方向上,所述电源配线用于对该逻辑单元提供源电压,其中,所述电源配线在所述第一方向上具有规则间隔开的缝隙。
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