[发明专利]质量分析装置和质量分析方法有效
| 申请号： | 200710085081.X | 申请日： | 2007-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN101188183A | 公开（公告）日： | 2008-05-28 |
| 发明（设计）人： | 桥本雄一郎;长谷川英树;和气泉;杉山益之 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42;H01J49/40;H01J49/26;G01N27/62 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王以平 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的质量分析计和质量分析装置由导入用离子源生成的离子并且施加RF电压的四重极棒电极和检测所排出的离子的检测机构构成，其特征在于：在棒轴向形成质量依存的电势，从电势的极小点附近质量选择地向轴向排出离子；此外，通过在插入棒电极之间的插入电极上施加静电电压和RF电压，形成质量选择的电势。根据本发明，实现排出效率高、排出能量低的线性阱。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种质量分析装置，其特征在于，包括：施加用于导入由离子源生成的离子的RF电压的多重极棒电极；在所述多重极棒电极的轴向形成质量依存的电势的电势形成部件；检测从所述多重极棒电极排出的离子的检测机构；向所述电势形成部件施加电压的电压施加部件；所述电压施加部件施加电压，以使得从形成的电势的极小点附近，质量选择地向轴向排出离子。
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