[发明专利]测试半导体器件的电源和地的连续性的方法无效
| 申请号： | 200710085085.8 | 申请日： | 2007-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN101038318A | 公开（公告）日： | 2007-09-19 |
| 发明（设计）人： | 潘伟权;王伟萍;陈华耀 | 申请（专利权）人： | 飞思卡尔半导体公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 康建峰 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本申请涉及一种测试半导体器件的电源和地的连续性的方法，该器件具有多个输入和输出(IO)管脚以及至少一对电源和地管脚，该方法包括识别器件的电源和地管脚。从器件的IO管脚中为每对电源和地管脚选择受扰管脚，并且从剩余的IO管脚中为每个受扰管脚选择入侵管脚。入侵管脚在高状态和低状态之间切换。测量每个受扰管脚上的开关噪声的电平，并且将所测量的开关噪声的电平与预定的数据相比较以确定器件的电源和地的连续性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 半导体器件 电源 连续性 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试半导体器件的电源和地的连续性的方法，该器件具有多个输入和输出(IO)管脚以及至少一对电源和地管脚，该方法包括：识别器件的电源和地管脚；从器件的IO管脚中为每个电源和地管脚选择受扰管脚；从剩余的IO管脚中为每个受扰管脚选择至少一个入侵管脚；在第一状态和第二状态之间切换入侵管脚；测量每个受扰管脚上的开关噪声的电平；将所测量的开关噪声的电平与预定的数据相比较以确定器件的电源和地的连续性。
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