[发明专利]感测式半导体装置及其制法无效
申请号: | 200710086013.5 | 申请日: | 2007-03-07 |
公开(公告)号: | CN101261942A | 公开(公告)日: | 2008-09-10 |
发明(设计)人: | 詹长岳;黄建屏;张泽文;黄致明;萧承旭 | 申请(专利权)人: | 矽品精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60;H01L27/146;H01L23/485;H01L23/488 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种感测式半导体装置及其制法,主要是于一具多个感测芯片的晶圆上,对应相邻感测芯片主动面的焊垫间形成多个凹槽,并于该凹槽中形成电性连接相邻感测芯片焊垫的导电线路,再于该晶圆上接置透光体以封盖该感测芯片的感测区,接着薄化该晶圆非主动面至该导电线路而外露出该导电线路,再沿各该感测芯片间进行切割,以形成多个侧边具有导电线路的感测芯片,之后将该些感测芯片接置于呈阵列排列有多个基板的基板模块片上,并使该感测芯片的导电线路电性连接至该基板,再于该基板模块片上对应各感测芯片间填充绝缘材料以包覆该感测芯片及沿该基板间进行切割,以形成多个感测式半导体装置,从而可避免现有技术中存在的问题。 | ||
搜索关键词: | 感测式 半导体 装置 及其 制法 | ||
【主权项】:
1. 一种感测式半导体装置的制法,包括:提供一包含有多个感测芯片的晶圆,该感测芯片具有相对的主动面及非主动面,该主动面上设有感测区及多个焊垫,以于相邻感测芯片主动面的焊垫间形成多个凹槽;于该凹槽中形成导电线路,以电性连接相邻芯片主动面的焊垫;于该感测芯片上接置透光体以遮盖该芯片感测区;薄化该感测芯片非主动面至该凹槽,以使该导电线路相对外露于该非主动面;沿各该感测芯片间进行切割,以形成多个侧边形成有导电线路的感测芯片;将该些感测芯片接置于呈阵列排列有多个基板的基板模块片上,并使该感测芯片的导电线路电性连接至该基板;于该基板模块片上对应各感测芯片间填充绝缘材料以包覆该感测芯片且外露出该透光体;以及沿该基板间进行切割,以形成多个感测式半导体装置。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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