[发明专利]半导体存储装置以及半导体装置有效

专利信息
申请号: 200710086267.7 申请日: 2007-03-09
公开(公告)号: CN101034584A 公开(公告)日: 2007-09-12
发明(设计)人: 中井信行;山崎裕之 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11C5/02 分类号: G11C5/02;H01L27/02;H01L27/118
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳;刘宗杰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 在构成大容量DRAM作为硬核的情况下,随着工艺细微化,防止与控制电路群的细微化相伴的比例不均衡引起的面积效率、性能、布线效率降低的因素。存储阵列区域与控制区域接触,并且,从平面上看以凸形配置。由此,在大容量的DRAM等存储器中,能够得到设计面积最优化、降低成本的效果。即,大容量的DRAM与需要各种大小变化的ROM、SRAM不同,限制安装个数,在半导体装置中所占的比例也较大,所以,着眼于四角形不是容易配置的必要条件的情况,可提供一种硬核,通过对面积效率、布线效率进行最优化来构成大容量的DRAM,并且,在实现系统LSI后也容易进行版面设计。
搜索关键词: 半导体 存储 装置 以及
【主权项】:
1.一种半导体存储装置,其中具有:存储阵列区域,以将存储单元排列为矩阵状的存储单元区域、选择指示所述存储单元区域的行以及列方向并从所选择指示的存储单元读写数据的多个电路、输入输出所读写的数据的数据输入输出电路的二维配置成为四角形的方式来构成;控制区域,以按照地址控制信号选择输出对所述行以及列方向进行指定的地址的地址输入电路、按照外部控制信号输出所述地址控制信号的控制电路、在待机时代替所述外部控制信号产生所述地址控制信号并进行所述存储单元区域的更新动作的更新电路、进行所述地址输入电路、所述控制电路和所述更新电路的时序调整的时序产生电路、使所述数据输入输出电路、所述地址输入电路、所述控制电路、所述更新电路和所述时序产生电路同步的时钟产生电路的二维配置成为四角形的方式来构成,所述控制区域和所述存储阵列区域相互连接一侧的一边的长度无需一致。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710086267.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top