[发明专利]硅微通道内连续打拿极的制作方法无效
申请号: | 200710086664.4 | 申请日: | 2007-03-29 |
公开(公告)号: | CN101022068A | 公开(公告)日: | 2007-08-22 |
发明(设计)人: | 端木庆铎;李野;王国政;姜德龙;付申成;吴奎;王新 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
主分类号: | H01J9/02 | 分类号: | H01J9/02 |
代理公司: | 中国兵器工业集团公司专利中心 | 代理人: | 曲博 |
地址: | 130022吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 硅微通道内连续打拿极的制作方法涉及到的是一种在长径比大于40的硅单晶基体微孔深通道内制作连续打拿极的方法,最终制得微通道板,属于光电成像技术领域。现有采用玻璃骨架制作的微通道板噪声高、分辨率低。本发明采用硅单晶微通道阵列骨架作为微通道板基体,先在硅单晶微通道阵列骨架表面制作SiO2绝缘层,再在该绝缘层上制作硅结晶导电层,最后将该导电层表层一部分硅热敏化,制作二次电子发射层,完成打拿极的制作。当一次电子能量为50~100eV时,其二次电子发射系数可达到1.25~2.50,电子增益达到104~105,并且,按照上述方法制作连续打拿极的微通道板分辨率得到提高,噪声得到降低。可应用于微光夜视技术领域。 | ||
搜索关键词: | 通道 连续 打拿极 制作方法 | ||
【主权项】:
1、一种硅微通道内连续打拿极的制作方法,其特征在于,采用硅单晶微通道阵列骨架(6)作为微通道板基体,然后,第一步,在硅单晶微通道阵列骨架(6)表面制作SiO2绝缘层(8);第二步,在所述绝缘层(8)上制作硅结晶导电层(9);第三步,将所述导电层(9)表层一部分硅热敏化,制作二次电子发射层(10)。
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