[发明专利]电路测试装置有效
| 申请号： | 200710088255.8 | 申请日： | 2007-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN101271144A | 公开（公告）日： | 2008-09-24 |
| 发明（设计）人： | 滕贞勇;陈弘伟;吴永裕 | 申请（专利权）人： | 普诚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭露一种电路测试装置，用来测试一待测试元件。该电路测试装置包含有一逻辑测试机以及一信号量测模块。逻辑测试机耦接于该待测试元件，用来提供一测试信号及一触发信号，并依据一数字量测结果来决定该待测试元件的测试结果。信号量测模块耦接于该待测试元件以及该逻辑测试机，于接收该触发信号后，量测该待测试元件依据该测试信号所产生的一直流信号，产生该数字量测结果。本发明所述的电路测试装置可以有效的节省测试所需的时间，更可以提升测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种电路测试装置，其特征在于，用来测试一待测试元件，该电路测试装置包含有：一逻辑测试机，耦接于该待测试元件，用来提供一测试信号及一触发信号，并依据一数字量测结果来决定该待测试元件的测试结果；以及一信号量测模块，耦接于该待测试元件以及该逻辑测试机，于接收该触发信号后，量测该待测试元件依据该测试信号所产生的一直流信号，产生该数字量测结果。
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