[发明专利]形成异质结双极晶体管的方法及相关结构有效
申请号: | 200710089329.X | 申请日: | 2007-03-23 |
公开(公告)号: | CN101087000A | 公开(公告)日: | 2007-12-12 |
发明(设计)人: | 托马斯·A.·沃尔纳;托马斯·N.·亚当;斯蒂芬·W.·贝戴尔;乔尔·P.·德索扎;凯斯莱恩·T.·舍恩伯格 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/737;H01L21/331;H01L21/28 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 秦晨 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 形成异质结双极晶体管的方法及相关结构。本发明公开了一种使用多孔硅形成隔离区的方法及相关结构。本发明的一个实施例可以包括形成收集极区;在该收集极区内形成多孔硅区;在收集极区上形成晶体硅本征基极层,该本征基极层在多孔硅区的一部分上延伸,从而形成非本征基极;和在多孔硅区内形成隔离区。该方法适用于形成HBT,其具有一个结构,该结构包括延伸超出收集极区并在隔离区上延伸的晶体硅本征基极,从而形成低电阻的连续本征-非本征基极传导路径。该HBT具有更小的收集极-本征基极界面,和更大的本征基极-非本征基极界面,因此具有更高的性能。 | ||
搜索关键词: | 形成 异质结 双极晶体管 方法 相关 结构 | ||
【主权项】:
1.一种结构,包括:晶体硅本征基极,其延伸超出收集极区并在隔离区上方延伸。
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