[发明专利]电子器件双轨检测设备及方法

摘要

本发明提供了一种电子器件双轨检测设备及方法，根据本发明的电子器件双轨检测设备包括送料装置、线性送料装置、旋转装置、校正装置、拍摄装置、分类装置、编码器以及微型机。因此，与现有的电子器件检测方法相比，根据本发明的电子器件双轨检测设备在同一时间内可以检测更多的电子器件，从而可以提高工作效率。

主权项

1.一种电子器件双轨检测设备，其特征在于，其包括：送料装置，通过振动作用移动通过储料器供给的所述电子器件，所述储料器中存储有大量的所述电子器件，用以进行检测；两个以上的线性送料装置，其具有规定的长度且彼此相邻设置，以便依次供给由所述送料装置供给的电子器件；旋转装置，具有圆形玻璃状，其上面放置由所述每个线性送料装置供给的电子器件，以形成两个以上的轨道；校正装置，具有一次校正器，所述一次校正器具有引导所述电子器件的通道，以便将放在所述玻璃板上的电子器件成一列地整理在用于检测的各个轨道；拍摄装置，用于拍摄整理在各个轨道中的电子器件的各个面的形状；以及，分类装置，在检测完的电子器件中，将位于最外侧轨道中的电子器件分为合格品和不合格品，之后，将位于下一外侧轨道中的电子器件分为合格品和不合格品。