[发明专利]多触点间隙测量系统以及操作方法无效
申请号: | 200710092184.9 | 申请日: | 2007-03-30 |
公开(公告)号: | CN101046367A | 公开(公告)日: | 2007-10-03 |
发明(设计)人: | E·A·安达拉维斯;S·达斯古普塔;S·马尼;陈为国 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01B7/14 | 分类号: | G01B7/14 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 原绍辉 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 提供一种多触点间隙测量系统(12)。该间隙测量系统(12)包括布置在第一物体(24)上的传感器(28),其中所述传感器包括被构造成产生信号的多个探测器触点(62,64,66,68),所述信号代表与第二物体(26)相对应的感测参数,所述间隙测量系统还包括处理单元(34),其被构造成估算来自探测器触点(62,64,66,68)的感测参数子集的信号,以检测异常探测器触点并调节相应异常探测器触点的增益或偏差,从而根据所述信号估计第一和第二物体(24,26)之间的间隙。 | ||
搜索关键词: | 触点 间隙 测量 系统 以及 操作方法 | ||
【主权项】:
1.一种多触点间隙测量系统(12),包括:布置在第一物体(24)上的传感器(28),其中所述传感器包括被构造成产生信号的多个探测器触点(62,64,66,68),所述信号代表与第二物体(26)相对应的感测参数;以及处理单元(34),其被构造成估算来自探测器触点(62,64,66,68)的感测参数子集的信号,以检测异常探测器触点并调节相应异常探测器触点的增益或偏差,从而根据所述信号估计第一和第二物体(24,26)之间的间隙。
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