[发明专利]监控闪存擦写性能的方法有效
| 申请号： | 200710094056.8 | 申请日： | 2007-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN101377958A | 公开（公告）日： | 2009-03-04 |
| 发明（设计）人： | 张会锐;曹刚 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 顾继光 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种监控闪存擦写性能的方法，采用缩紧规格的方法进行擦写性能测试，包括如下步骤：(1)在擦写性能测试程序中设立一个较严的规格，使其大于实际使用规格；(2)对每个测试对象记录在步骤(1)设立的规格下擦写1次时失效的擦写次数和重复擦写2次仍失效时的擦写次数；(3)计算每个测试对象在步骤(2)中两个记录的擦写次数的比值，对该比值进行数据处理，用该比值来监控擦写性能。采用本发明方法，在保证擦写性能监控准确性的同时，能缩短擦写性能监控的测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 监控 闪存 擦写 性能 方法 | ||
【主权项】：
1、一种监控闪存擦写性能的方法，其特征在于，采用缩紧规格的方法进行擦写性能测试，包括如下步骤：(1)在擦写性能测试程序中设立一个较严的规格，使其大于实际使用规格；(2)对每个测试对象记录在步骤(1)设立的规格下擦写1次时失效的擦写次数和重复擦写2次仍失效时的擦写次数；(3)计算每个测试对象在步骤(2)中两个记录的擦写次数的比值，对该比值进行数据处理，用该比值来监控擦写性能。
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