[发明专利]哈特曼波前传感器质心测量精度优化方法无效

专利信息
申请号: 200710098754.5 申请日: 2007-04-26
公开(公告)号: CN101055223A 公开(公告)日: 2007-10-17
发明(设计)人: 黄俊;许冰;李华强 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J9/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人: 贾玉忠;卢纪
地址: 61020*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 哈特曼波前传感器质心测量精度优化方法,步骤为:对光电探测装置输出的象素数据进行阈值处理;利用上述阈值处理后的象素数据计算各子孔径光斑的阶矩质心,其中=1,2,3......L;重复计算各子孔径光斑的阶矩质心;计算各子孔径光斑的阶矩质心标准差的平均值;找出对应最小的阶数,即完成了哈特曼波前传感器质心测量精度优化方法。多次重复计算各子孔径光斑的α阶矩质心并得到对应的质心标准差,以全部子孔径质心标准差均值小者所对应的阶数为优,所筛选出的高阶矩质心算法,相对于其它各阶矩质心算法,能更有效地抑制噪声对质心计算精度的影响,其质心测量的重复精度最优,从而提高了波前重构精度。
搜索关键词: 哈特曼波前 传感器 质心 测量 精度 优化 方法
【主权项】:
1、哈特曼波前传感器质心测量精度优化方法,其特征在于步骤如下:(1)对光电探测装置输出的象素数据进行阈值处理;(2)利用上述阈值处理后的象素数据Inm计算各子孔径光斑的α阶矩质心,其中α=1,2,3......L;(3)重复计算各子孔径光斑的α阶矩质心;(4)利用下述公式计算各子孔径光斑的α阶矩质心标准差的平均值Sα, S α = 1 N A Σ i = 1 N A ( 1 K - 1 Σ k = 1 K ( x i , α , k - x i , α ) 2 ) 1 / 2 , 其中NA为子孔径总数,k为重复次数,k=1,2,3...K; x i , α = 1 K Σ k = 1 K x i , α , k ; (5)通过求出α阶质心所对应的Sα后,找出对应Sα最小的阶数,即完成了哈特曼波前传感器质心测量精度优化方法。
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