[发明专利]使用锯齿型金属长周期光栅测试保偏光纤参数方法和装置

摘要

使用锯齿型金属长周期光栅测试保偏光纤参数方法和装置，涉及到保偏光纤拍长、双折射、保偏光纤温度稳定性等偏振相关参数的测量。包含宽带光源；锯齿型金属长周期光栅，该光栅由公的锯齿部分与母的V型槽相匹配，公的相邻锯齿间的距离为光栅周期，决定测量的波长范围；金属长周期光栅和被测保偏光纤的部分一起置于温度控制器中。由于双折射的存在，同阶耦合模将分裂，在光谱仪上显示有波长差，通过波长差及其金属光栅的周期就可以求出保偏光纤的双折射，通过测得的双折射进而得到保偏光纤的偏振相关的其它参数。改变温度控制系统的温度就可以得到保偏光纤偏振温度相关的特性。具有结构紧凑、易于实施、响应速度快、测试精度高和测量准确等特点。

主权项

1、一种使用锯齿型金属长周期光栅测试保偏光纤参数的方法，其特征是：包括如下步骤：步骤1：制备一个锯齿型金属长周期光栅，该光栅由上下两部份组成，上部分为公，下部分为母，母为一个V型槽，公的锯齿部分与母的V型槽相匹配，公的相邻锯齿间的距离为光栅周期，决定测量的波长范围；步骤2：在金属长周期光栅的两端安装固定保偏光纤的夹子；步骤3：金属长周期光栅上下两部份置于同一底板上；步骤4：在宽带光源与光谱仪之间接入一段保偏光纤；步骤5：将接入保偏光纤的一部分放置在金属长周期光栅的中间；步骤6：将光栅上下两部份咬合，并用金属长周期光栅两端的固定夹子固定保偏光纤；步骤7：金属长周期光栅和被测保偏光纤的部分一起置于温度控制器中；步骤8：旋转精密丝杠，在金属长周期光栅上施加压力，压迫保偏光纤，在保偏光纤上有规律地形成微弯曲，即在保偏光纤上形成长周期光栅；步骤9：通过光谱仪检测保偏光纤中长周期光栅的同阶次耦合包层模所分裂成的不同波长位置，获得同阶次波长差，长周期金属光栅的周期已知，可以得到保偏光纤的双折射；步骤10：通过测得的双折射进而得到保偏光纤的偏振相关的其它参数，改变温度控制系统的温度就可以得到保偏光纤偏振温度相关的特性。