[发明专利]高精度非接触三维面型测量装置无效

专利信息
申请号: 200710099770.6 申请日: 2007-05-30
公开(公告)号: CN101105389A 公开(公告)日: 2008-01-16
发明(设计)人: 黄亮;慈林林;杨斌;杨银刚;葛根焰;姜春福 申请(专利权)人: 中国人民解放军第二炮兵装备研究院第四研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/03;G01B11/24
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 代理人: 张涛
地址: 100085北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种高精度非接触三维面型测量装置。该装置包括激光测量传感器、X向、Y向和Z向运动单元等。本发明提供了高精度非接触测量装置和测量方法,可对硬质材料、软质材料和镜面材料的表面面型等进行高精度快速动态无损伤测量,获得面型、尺寸、表面状态等数据。
搜索关键词: 高精度 接触 三维 测量 装置
【主权项】:
1.一种高精度非接触三维面型测量装置,包括基座(1),工作台面(3),龙门支架(4),X向运动单元(2),Y向运动单元(6),Z向运动单元(9),Z向安装架(5),激光测量传感器(8)和控制计算机,其特征是:X向运动单元(2)固定在基座(1)上,龙门支架(4)固定在基座(1)上,Y向运动单元(6)设置于龙门支架(4)上方,Z向运动单元(9)通过Z向安装架(5)设置于Y向运动单元(6)上,激光测量传感器(8)固定于Z向运动单元(9)上,工作台面(3)设置于X向运动单元(2)上。
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