[发明专利]基于漏磁测量来确定应力的方法及其装置无效

专利信息
申请号: 200710100333.1 申请日: 2007-06-08
公开(公告)号: CN101071122A 公开(公告)日: 2007-11-14
发明(设计)人: 陈利民;纪金豹;阎维明;李振宝;周锡元;黄浩华 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01N27/82 分类号: G01N27/82;G01L1/12
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 代理人: 刘萍
地址: 100022*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 基于漏磁测量来确定应力的方法及其装置属于无损检测技术领域。目前常用的X-Ray检测、磁粉检测、超声检测等无损检测技术手段均不仅要求被测样停止工作,而且只能发现被测样已存在的缺陷,对将要发生缺陷的部位无法预测。本发明技术方案:检测被地磁场磁化的被测样表面漏磁场,或者检测被测样在周围空间的漏磁场,将测量结果与预先建立的标样漏磁场数据库中的标准数据进行比对和计算,从而得出被测样的应力。本发明可以发现被测样已存在的缺陷,对将要发生缺陷的部位预测。
搜索关键词: 基于 测量 确定 应力 方法 及其 装置
【主权项】:
1.一种基于漏磁测量来确定应力的方法,其特征在于:检测被地磁场磁化的被测样表面漏磁场,或者检测被测样在周围空间的漏磁场,将测量结果与预先建立的标样漏磁场数据库中的标准数据进行比对和计算,从而得出被测样的应力;其中用如下方法建立标样漏磁场数据库:1)制作与被测样同种材料、同形状截面标样;2)测量并记录试验环境磁场,计算环境磁场平均值;测量并记录地磁场;3)试验环境保持恒温,设置并记录试验环境温度;4)把标样安装在加载试验设备的试验台架上,初始不对标样加载;5)测量并记录标样表面漏磁场,直到整个表面各个点测量完毕;6)在沿标样表面法线向外、与标样表面平行的某一空间平面内,测量并记录标样在该空间平面的漏磁场;7)在沿标样表面法线向外、与标样表面平行的空间平面内重复步骤6),直到该空间平面内所有点的漏磁场值与环境磁场平均值一致;8)操作试验设备对标样加载至某一值,重复步骤5)、6)、7)测量并记录标样在该载荷下的表面漏磁场和空间漏磁场;同时测量并记录标样的应力;9)加大标样的载荷,重复步骤8)直到标样被破坏;这样得到一定地磁场、一定温度下的漏磁场-应力关系数据;10)改变温度重复步骤3)~9),得到该标样一定地磁场下的漏磁场-应力-温度关系数据;11)监测地磁场,在不同地磁场值时重复2)~9),获得该标样的漏磁场-应力-温度-地磁场关系数据,将所得数据进行消噪处理,得到该标样的漏磁场-应力-温度-地磁场关系数据,从而建立标样漏磁场数据库;其中对被测样的应力测量方法如下:记录被测样地点环境温度,测量并记录地磁场数据,在被测样表面或与表面平行的某一空间平面内测量漏磁场;对所得的被测样漏磁场数据进行消噪处理、几何修正,将修正后的数据与标样的漏磁场-应力-温度-地磁场数据相对比计算,从而得出被测样的应力;所述的几何修正为乘以被测样与标样的面积之比。
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