[发明专利]电光学装置及其制造方法和电子设备有效

专利信息
申请号: 200710102361.7 申请日: 2003-12-05
公开(公告)号: CN101064339A 公开(公告)日: 2007-10-31
发明(设计)人: 中西早人 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H01L27/32 分类号: H01L27/32;H01L21/82;H01L21/50;G09G3/32
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李香兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种电光学装置及其制造方法和电子设备。本发明的目的是使装置小型化。电光学装置包括在基板(10)的动作区域(12)上对应于多条扫描线和多条数据线的交叉部设置的每个包含电光学元件(60)的多个单位电路;在所述动作区域的周围形成的至少一个具有能动元件的外围电路(14)和具有位于与外围电路(14)重叠位置上的安装部(90)、密封电光学元件(60)的密封部件(84)。外围电路(14)是经多条扫描线将扫描信号提供给单位电路用的扫描线驱动电路、检查单位电路是否正常用的检查电路和将预充电信号输出到多条扫描线的预充电电路的任意一种电路。
搜索关键词: 光学 装置 及其 制造 方法 电子设备
【主权项】:
1.一种电光学装置,其特征在于,包括:基板;在所述基板的动作区域中,对应于多条扫描线和多条数据线的交叉部而设置的各个包含电光学元件的多个单位电路;具有有源元件、且形成在所述动作区域的周围的至少一个的外围电路;和以与所述外围电路相重叠的方式定位并具有相对于所述基板的安装部且对所述电光学元件进行密封的密封部件;所述外围电路是用于经过所述多条扫描线将扫描信号提供给所述单位电路的扫描线驱动电路,用于检查所述单位电路是否正常的检查电路和将预充电信号输出到所述多条数据线的预充电电路中的任意一种电路。
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