[发明专利]半导体测试结果的图形表示无效
| 申请号： | 200710103558.2 | 申请日： | 2007-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN101042422A | 公开（公告）日： | 2007-09-26 |
| 发明（设计）人： | 加里·瑞恩斯 | 申请（专利权）人： | 韦瑞吉（新加坡）私人有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 本文提出了一个用图形表示被测电路装置的测试结果的方法和仪器。被测电路装置的测试结果可以被获得。图表包含至少一部分被测电路装置描述以及电路元件和相关的电路元件端子的图表，是从被测电路装置节点的测试结果得到的，该被测电路装置节点被映射到所示图表中的电路元件端子。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 测试 结果 图形 表示 | ||
【主权项】：
1、一种用于图形化表示被测电路装置的测试结果的方法，所述方法包括：获得所述被测电路装置的相应电路装置节点的测试结果；访问包括对至少一部分所述被测电路装置的描述的图表，所述描述包括电路元件和相关的电路元件端子；将在所述图表中描述的电路元件端子映射到所述被测电路装置的相应电路装置节点；以及显示所述图表，从而显示与映射到在所述图表中描述的电路元件端子的电路装置节点相对应的测试结果。
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