[发明专利]用于减小重置相变存储器件的存储单元中的部分相变材料用的重置电流的方法及相变存储器件有效

专利信息
申请号: 200710104174.2 申请日: 2007-05-21
公开(公告)号: CN101106174A 公开(公告)日: 2008-01-16
发明(设计)人: 郑椙旭;孔晙赫;李智惠;赵栢衡 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;H01L27/24;G11C11/56
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 林宇清;谢丽娜
地址: 韩国京畿道水*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及用于减小重置相变存储器件的存储单元中的部分相变材料用的重置电流的方法及相变存储器件。根据一个实施例,包括第一晶相的至少部分相变材料被转变为晶相和非晶相之一。与第一晶相相比,第二晶相更容易转变为非晶相。例如,第一晶相可以是六边形闭合密集结构,以及第一晶相可以是面心立方结构。
搜索关键词: 用于 减小 重置 相变 存储 器件 单元 中的 部分 材料 电流 方法
【主权项】:
1.一种用于减小重置电流的方法,该重置电流重置相变存储器件的存储单元中的部分相变材料,该方法包括:将包括第一晶相的至少部分相变材料转变为第二晶相和非晶相之一,与第一晶相相比,第二晶相更容易转变为非晶相。
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