[发明专利]测试装置及方法无效
| 申请号： | 200710107789.0 | 申请日： | 2007-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN101034133A | 公开（公告）日： | 2007-09-12 |
| 发明（设计）人： | 邱己溱 | 申请（专利权）人： | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陶海萍 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试装置及方法。该测试装置包含电路板以及第一探针；电路板上设置有第一测点以及第二测点，其中第一测点电性连接于集成电路，而第二测点电性连接于第一测点；第一探针用以与第一测点作电性接触，并通过第一测点传送一信号至集成电路中；第二测点用以供检测第一探针是否与第一测点作电性接触。本发明还提供一种测试方法。通过本发明，该测试装置及方法可于刻录驱动IC之前，预先进行判别的动作，确认用以输入刻录信号的探针确实与电路板上的测点作电性接触，避免刻录不良的情形发生，借此改善在刻录过程中经常发生刻录失败的问题，并相对地提升产品的良品率，减少制作成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，所述测试装置包含：一电路板，所述电路板上设置有一第一测点以及一第二测点，其中所述第一测点电性连接于一集成电路，且所述第二测点电性连接于所述第一测点；以及一第一探针，用以与所述第一测点作电性接触，并通过所述第一测点传送一信号至所述集成电路；其中，所述第二测点用以供检测所述第一探针是否与所述第一测点作电性接触。
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