[发明专利]取样多相电气装置的电信号的方法和设备有效
| 申请号： | 200710108236.7 | 申请日： | 2007-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN101082642A | 公开（公告）日： | 2007-12-05 |
| 发明（设计）人： | 马泰·尤拉斯卡 | 申请（专利权）人： | 施耐德电器工业公司 |
| 主分类号： | G01R25/00 | 分类号： | G01R25/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 史新宏;邵亚丽 |
| 地址： | 法国吕埃*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 一种用于取样多相电气装置的电信号的方法，所述方法能够通过固定的取样周期(Te)，根据正确相位上的样本来校正预定相位上的样本，所述方法包括以下步骤：(a)在每个相位上连续提供样本(Ik)，(b)叠加相同基本周期上的每个正确相位的部分样本，(c)为每个正确相位确定界限(Lj)，(d)在每个正确相位上选择一序列连续样本，该序列的第一样本具有等于界限(Lj)的取样指数，和(e)根据所选择的序列的样本的值来校正预定相位的一序列第一连续样本。用于取样电信号的设备包括用于提供样本的装置(201)和能够实施上述方法的处理装置(202)。 | ||
| 搜索关键词： | 取样 多相 电气 装置 电信号 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于取样多相电气装置的电信号的方法，所述方法能够根据正确相位上的样本校正预定相位上的样本，所述装置的每个相位(j)上的电信号具有基本周期(Ts)，通过固定取样周期(Te)来进行取样，所述方法其特征在于包括以下步骤：(a)在每个相位上连续提供样本(IK)，每个样本与取样指数(K)和取样时间相关，(b)叠加相同基本周期上每个正确相位的至少一部分样本，将每个所述样本与相对于所述正确相位的第一样本所定义的相对时间相关，(c)为每个正确相位确定界限(Lj)，所述界限基本上等于样本(ILj)的取样指数(K)的值，对其最小化与所述样本(ILj)相关的相对时间和与预定相位的第一样本相关的取样时间之间的差，(d)在每个正确相位上选择一序列连续样本，所述序列的第一样本具有等于界限(Lj)的取样指数(K)，和(e)校正预定相位的一序列第一连续样本，根据在先前步骤中所选择的序列的样本的值来校正所述序列。
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