[发明专利]产生和/或实现补偿位移差的线轮廓的方法、介质和系统无效

专利信息
申请号: 200710108938.5 申请日: 2007-06-07
公开(公告)号: CN101086832A 公开(公告)日: 2007-12-12
发明(设计)人: 方裕善;白亚伦;朴斗植 申请(专利权)人: 三星电机株式会社
主分类号: G09G5/00 分类号: G09G5/00;H04N5/74;H04N9/31;G09F9/33;G02F1/00
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 韩明星;邱玲
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种产生和/或实现用于补偿光调制器中的位移差的线轮廓的方法、介质和系统。在所述方法中,设计由预定数量的片组成的测试图,该片按照规则灰度等级间隔排列。使用一维光调制器来显示设计的测试图,并使用相机来拍摄显示的测试图,由此获取二维图像。此后,将二维图像划分为多个区域,并对于所述区域的每条水平线计算光强的平均值。最后,使用计算的平均值对各个水平线产生和/或实现线轮廓。
搜索关键词: 产生 实现 补偿 位移 轮廓 方法 介质 系统
【主权项】:
1、一种产生用于光调制的线轮廓的方法,所述方法包括:将拍摄的显示的测试图的二维图像划分为多个区域,计算所述区域的水平线的光强的各个平均值;以及使用计算的平均值来产生所述区域的各个水平线的线轮廓,以抵消用于光调制的光调制器的光栅之间的位移差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电机株式会社,未经三星电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710108938.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top