[发明专利]测量装置有效
| 申请号： | 200710108988.3 | 申请日： | 2007-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN101324524A | 公开（公告）日： | 2008-12-17 |
| 发明（设计）人： | 张志祥;潘信宏;李君浩;萧智鸿 | 申请（专利权）人： | 财团法人工业技术研究院 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 程伟 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种测量装置，包括一发光元件、一设置有基材的透镜组件及一检测元件，通过该发光元件产生光源投射至该透镜组件，并通过该检测元件接收、检测经由该透镜组件入射的光线，以计算具有阻挡材料的基材的透光率，进而得知该基材的阻挡率，另外，该基材可通过一受力件提供一应力，使其可于不同曲率形变下测量其透气率。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测量装置，用以测量基材的透气率，该测量装置至少包括：发光元件，用以产生光源；检测元件，用以接收光线，并从而取得该光线的透光变化量；透镜组件，配置于该发光元件与该检测件的光路间，用以接收该光源及投射光线至该检测元件，且具有一个以上用以调整焦距的透镜；以及载件，配置于该透镜组件的透镜之间，用以设置该基材，并使光线可穿透该基材。
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