[发明专利]配置辐射源以同时辐照衬底的方法和系统有效

专利信息
申请号: 200710109038.2 申请日: 2007-06-15
公开(公告)号: CN101097840A 公开(公告)日: 2008-01-02
发明(设计)人: E·J·诺瓦克;B·A·安德森 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 于静;刘瑞东
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种配置J个电磁辐射源(J≥2)以同时辐照衬底的方法。每个源具有发射的辐射的波长和角分布的不同函数。所述衬底包括基层和在所述基层上的I个叠层(I≥2)。Pj表示在每个叠层上来自源j的相同指定源的垂直入射能量通量。为了同时暴露所述I个叠层至来自所述J个源的电磁辐射,计算Pj以便作为|W1-S1|,|W2-S2|,...,|WI-SI|的函数的误差E关于Pj (j=1,2...,J)近似最小化。Wi和Si分别表示经过叠层i(i=1,2...,I)透射进入所述衬底的实际和目标能量通量。将所述叠层暴露到来自以所述计算的Pj (j=1,2...,J)为特征的所述源的辐射。
搜索关键词: 配置 辐射源 同时 辐照 衬底 方法 系统
【主权项】:
1.一种配置辐射源以同时辐照衬底的方法,所述方法包括以下步骤:指定J个电磁辐射源,所述J个源的每个源以其发射的辐射的波长和角分布的不同函数为特征,所述J≥2;指定衬底,所述衬底包括基层和在所述基层上的I个叠层,所述I≥2,其中Pj表示在每个叠层上来自源j的相同的垂直入射能量通量以便Pj与源j对应,j=1,2...,J;指定目标能量通量Si,其目标为经过每个叠层i透射进入所述衬底以便Si与每个叠层i对应;以及为了同时暴露所述I个叠层至来自所述J个源的电磁辐射,计算每个Pj以便作为|W1-S1|,|W2-S2|,...,|WI-SI|的函数的误差E关于Pj近似最小化,j=1,2...,J,其中Wi表示经过叠层i透射进入所述衬底的实际能量通量,i=1,2...,I。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国际商业机器公司,未经国际商业机器公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710109038.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top