[发明专利]集成电路封装体及其装配方法有效

专利信息
申请号: 200710109234.X 申请日: 2007-05-24
公开(公告)号: CN101083231A 公开(公告)日: 2007-12-05
发明(设计)人: 萨姆·齐昆·赵;雷泽厄·拉曼·卡恩 申请(专利权)人: 美国博通公司
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00;H01L23/552;H01L23/367;H01L21/50
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 代理人: 蔡晓红
地址: 美国加州尔湾市奥尔顿公*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及在集成电路(IC)封装体中改进散热性能和电磁干扰(EMI)屏蔽性能的装置及方法。晶粒朝上或晶粒朝下的封装体包括第一和第二封帽、IC晶粒和导线架,其中第一和第二封帽内部形成空腔。导线架包括设于中心位置的晶粒托盘、多个引线、及连接晶粒托盘与引线的多个连接杆。IC晶粒安装在晶粒托盘上。包围空腔的第一和第二封帽的平坦边缘部分与导线架相连。第一、第二封帽和导线架一起构成密围结构,将IC晶粒包围住,从而屏蔽了向IC晶粒辐射的EMI以及IC晶粒向外辐射的EMI。该密围结构还向外散发IC晶粒在工作过程中产生的热量。
搜索关键词: 集成电路 封装 及其 装配 方法
【主权项】:
1、一种集成电路器件封装体,其特征在于,包括:IC晶粒;第一封帽;第二封帽;及导线架,其具有彼此相对的第一和第二表面,并包括:位于其中部的晶粒托盘;从所述晶粒向外呈放射状延伸的多个引线;多个连接杆,每个连接杆有一端与所述晶粒托盘相连;其中:所述晶粒安装在晶粒托盘上;所述第一封帽安装在导线架的第一表面,第一封帽的平坦边缘部分连接于导线架的第一表面;所述第二封帽安装在导线架的第二表面,第二封帽的平坦边缘部分连接于导线架的第二表面;所述第一封帽、第二封帽及导线架构成包围所述IC晶粒的密围结构。
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