[发明专利]半导体器件及其制造方法有效
申请号: | 200710110869.1 | 申请日: | 2007-06-12 |
公开(公告)号: | CN101090133A | 公开(公告)日: | 2007-12-19 |
发明(设计)人: | 水野义人;纪国雅宏;小池伸二;松本昌弘;柳堀文嗣 | 申请(专利权)人: | 丰田自动车株式会社;株式会社爱发科 |
主分类号: | H01L29/43 | 分类号: | H01L29/43;H01L29/45;H01L29/739;H01L21/28;H01L21/331 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 柳春雷 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了一种半导体器件,包括:硅衬底,其具有用于将所述硅衬底焊接到陶瓷衬底上的表面;和电极,其与所述硅衬底的所述表面进行接触。所述电极包括:第一导体层、第二导体层和第三导体层。第一导体层与所述硅衬底的所述表面进行接触,并包括铝和硅。第二导体层与第一导体层进行接触,并包括钛。第三导体层通过第二导体层而与第一导体层分离,并包括镍。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:硅衬底,其具有用于将所述硅衬底焊接到陶瓷衬底上的表面;和电极,其与所述硅衬底的所述表面进行接触,其中所述电极包括:第一导体层,其与所述硅衬底的所述表面进行接触,并包括铝和硅;第二导体层,其与所述第一导体层进行接触,并包括钛;和第三导体层,其通过所述第二导体层而与所述第一导体层分离,并包括镍。
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