[发明专利]半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200710110869.1 申请日: 2007-06-12
公开(公告)号: CN101090133A 公开(公告)日: 2007-12-19
发明(设计)人: 水野义人;纪国雅宏;小池伸二;松本昌弘;柳堀文嗣 申请(专利权)人: 丰田自动车株式会社;株式会社爱发科
主分类号: H01L29/43 分类号: H01L29/43;H01L29/45;H01L29/739;H01L21/28;H01L21/331
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人: 柳春雷
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种半导体器件,包括:硅衬底,其具有用于将所述硅衬底焊接到陶瓷衬底上的表面;和电极,其与所述硅衬底的所述表面进行接触。所述电极包括:第一导体层、第二导体层和第三导体层。第一导体层与所述硅衬底的所述表面进行接触,并包括铝和硅。第二导体层与第一导体层进行接触,并包括钛。第三导体层通过第二导体层而与第一导体层分离,并包括镍。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:硅衬底,其具有用于将所述硅衬底焊接到陶瓷衬底上的表面;和电极,其与所述硅衬底的所述表面进行接触,其中所述电极包括:第一导体层,其与所述硅衬底的所述表面进行接触,并包括铝和硅;第二导体层,其与所述第一导体层进行接触,并包括钛;和第三导体层,其通过所述第二导体层而与所述第一导体层分离,并包括镍。
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