[发明专利]半导体器件、半导体器件的测试方法和探针卡有效
| 申请号： | 200710112206.3 | 申请日： | 2007-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN101093244A | 公开（公告）日： | 2007-12-26 |
| 发明（设计）人： | 内田练;森雅美 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/28;G01R1/04;G01R1/06 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 浦柏明;刘宗杰 |
| 地址： | 日本大阪*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体器件。在对驱动部进行动作测试时，由测试电路生成要提供给驱动部的测试信号。在测试电路中，老化控制电路能够根据从外部提供的时钟信号TESTCK生成上述测试信号。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 测试 方法 探针 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，其特征在于：具有主动作部以及在对该主动作部进行品质判断测试时生成要被提供给该主动作部的测试信号的测试信号生成部，其中，上述测试信号生成部能够根据从外部输入的测试启动信号和时钟信号生成上述测试信号。
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