[发明专利]芯片验证的预处理方法和预处理装置无效
| 申请号： | 200710118029.X | 申请日： | 2007-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN101105769A | 公开（公告）日： | 2008-01-16 |
| 发明（设计）人： | 李崴巍;游明琦 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 宋志强;麻海明 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片验证的预处理方法，该方法包括：A.采用被验证芯片中的硬件算法及其对应的验证算法分别对输入数据进行运算，获得硬件算法执行结果和验证算法执行结果，计算出该输入数据对应的环境变量数据，并根据硬件算法执行结果和验证算法执行结果确定不一致点；B.将所述不一致点在输入数据中对应的输入数值，以及所述不一致点对应的硬件算法执行结果、验证算法执行结果和环境变量数据确定为预处理结果。本发明还公开了一种芯片验证的预处理装置，使用本发明能够降低芯片验证的复杂程度，提高芯片验证的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 预处理 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种芯片验证的预处理方法，其特征在于，该方法包括：A、采用被验证芯片中的硬件算法及其对应的验证算法分别对输入数据进行运算，获得硬件算法执行结果和验证算法执行结果，计算出该输入数据对应的环境变量数据，并根据硬件算法执行结果和验证算法执行结果确定不一致点；B、将所述不一致点在输入数据中对应的输入数值，以及所述不一致点对应的硬件算法执行结果、验证算法执行结果和环境变量数据确定为预处理结果。
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