[发明专利]磁致伸缩性能测量装置无效

专利信息
申请号: 200710120496.6 申请日: 2007-08-20
公开(公告)号: CN101109790A 公开(公告)日: 2008-01-23
发明(设计)人: 徐惠彬;徐立红;蒋成保 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R33/18 分类号: G01R33/18;G01B7/16
代理公司: 北京永创新实专利事务所 代理人: 周长琪
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种磁致伸缩性能测量装置,包括有温度控制组件、直流稳压电源、电阻应变仪、压力组件、氮气源、磁场组件、基座;温度控制组件包括有数字式温度计、陶瓷加热管;温度计的测温端与被测试样接触;陶瓷加热管与220V,50Hz电源连接;本发明的测量装置实现了在不同磁场强度(0~4000Oe)、不同温度环境(77~450K)、不同压力(0~20MPa)条件下对宽温域巨磁致伸缩材料的磁致伸缩性能进行测量,实现了一台仪器的多参数测量。
搜索关键词: 伸缩 性能 测量 装置
【主权项】:
1.一种磁致伸缩性能测量装置,包括有温度控制组件、直流稳压电源、电阻应变仪、氮气源(5);其特征在于:还包括有压力组件(3)、磁场组件(2)、基座(1);所述基座(1)的A安装臂(101)上螺纹连接有A磁芯(201)的A螺纹段(205),基座(1)的B安装臂(102)上螺纹连接有B磁芯(202)的B螺纹段(206),基座(1)的中心位置开有用于活动安装托盘(4)的凹槽(105),凹槽(105)与A安装臂(101)之间是用于安装A励磁线圈(211)的A安装面(104),凹槽(105)与B安装臂(102)之间是用于安装B励磁线圈(212)的B安装面(103);所述磁场组件(2)由A励磁线圈(211)、B励磁线圈(212)、A磁芯(201)、B磁芯(202)、霍尔传感器组成;A磁芯(201)的A磁杆段(203)套装在A励磁线圈(211)的中心通孔内;B磁芯(202)的B磁杆段(204)套装在B励磁线圈(212)的中心通孔内;A励磁线圈(211)与B励磁线圈(212)结构相同,A磁芯(201)与B磁芯(202)结构相同;A励磁线圈(211)与B励磁线圈(212)是由在骨架上缠绕直径为0.8mm的漆包铜线1000~5000匝绕制而成;A磁芯(201)为一体加工成型件,A磁芯(201)上顺次设有A磁杆段(203)、A螺纹段(205)、A转盘(207);B磁芯(202)为一体加工成型件,B磁芯(202)上顺次设有B磁杆段(204)、B螺纹段(206)、B转盘(208);所述压力组件(3)由压力包(301)、压力外壳(302)组成;压力包(301)内部设有一空腔,空腔用于充入氮气;设在压力包(301)左端部(305)的接口(304)与外部设备氮气源(5)的气源输出口连接,压力外壳(302)的中心设有通孔(303),通孔(303)用于放置压力包(301);所述温度控制组件,由数字式温度计、陶瓷加热管、附件装置组成,附件装置有干冰或者液氮;温度计的测温端与被测试样接触,陶瓷加热管与220V,50Hz电源连接;所述直流稳压电源输出为0~30V,3A,用于提供磁场组件(2)的A励磁线圈(211)、B励磁线圈(212)所需加载电流。
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