[发明专利]单光路量子效率测试系统无效
| 申请号： | 200710122477.7 | 申请日： | 2007-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN101398453A | 公开（公告）日： | 2009-04-01 |
| 发明（设计）人： | 刘磊;陈诺夫;曾湘波;张汉;吴金良;高福宝 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/265;G01R1/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 100083北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种单光路量子效率测试系统，包括：一卤钨灯光源、一凸透镜、一光斩波器；一单色仪，卤钨灯光源、凸透镜和光斩波器位于该单色仪输入光入口的光路上；一锁相放大器，其频率参考输入端与光斩波器斩波频路输出端连接；一计算机负责控制和处理台单色仪和锁相放大器的数据，使单色仪与锁相放大器协调工作；一转动式样品定位器位于单色仪输出光出口的光路上，并与锁相放大器通过线缆连接，转动式样品定位器可通过旋转动作使样品和标准探测器处于光路的同一位置；一组偏置光源位于单色仪输出光出口的光路上的周围，该偏置光源将偏置光照射到待测样品表面，起短路样品的非测量子电池的作用。 | ||
| 搜索关键词： | 单光路 量子 效率 测试 系统 | ||
【主权项】：
1、一种单光路量子效率测试系统，其特征在于，包括：一卤钨灯光源、一凸透镜、一光斩波器；一单色仪，所述的卤钨灯光源、凸透镜和光斩波器位于该单色仪输入光入口的光路上，卤钨灯光源发出的光经凸透镜汇聚在单色仪光入口处；一锁相放大器，该锁相放大器的频率参考输入端与光斩波器斩波频路输出端连接；一计算机，该计算机负责控制和处理台单色仪和锁相放大器的数据，使单色仪与锁相放大器协调工作；一转动式样品定位器，该转动式样品定位器位于单色仪输出光出口的光路上，并与锁相放大器通过线缆连接，转动式样品定位器可通过旋转动作使样品和标准探测器处于光路的同一位置；一组偏置光源，该偏置光源位于单色仪输出光出口的光路上的周围，该偏置光源将偏置光照射到待测样品表面，起短路样品的非测量子电池的作用。
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