[发明专利]物质浓度的无损光学检测方法及其装置无效

专利信息
申请号: 200710125464.5 申请日: 2007-12-24
公开(公告)号: CN101194828A 公开(公告)日: 2008-06-11
发明(设计)人: 何永红 申请(专利权)人: 清华大学深圳研究生院
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00;A61B3/00;G01N21/45;G06F19/00
代理公司: 深圳创友专利商标代理有限公司 代理人: 江耀纯
地址: 518055广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种利用光学干涉法来测量反射光强的光谱吸收法来无损检测物质浓度的方法及装置。应用光学干涉法探测光线射入物质载体后的反射信号,通过分析不同波长下光线经被测物质及其载体吸收后信号的变化来间接检测该物质的浓度,最终达到无损监测的目的。实现该检测方法的装置采用多个不同波长的宽带光源、麦克尔逊干涉仪、光探测器和信号处理及计算装置。本发明具有无损、简便以及高灵敏度的特点。
搜索关键词: 物质 浓度 无损 光学 检测 方法 及其 装置
【主权项】:
1.一种物质浓度的无损光学检测装置,包括光源、麦克尔逊干涉仪、光电探测器、数据处理及计算装置,所述麦克尔逊干涉仪中的分光器将来自光源的光线分别反射或透射到参考臂和测量臂,并将来自参考臂和测量臂的光线混合干涉后出射到光电检测器,光电检测器的信号则输出到数据处理及计算装置;其特征是:还包括光耦合装置、分光装置,所述光源的出射光包括两个或两个以上不同波长的光,不同波长的光经耦合后再入射到所述麦克尔逊干涉仪,从而所述麦克尔逊干涉仪出射的干涉光也包括两个或两个以上不同波长,出射光经分光装置分光后,各波长的光分别出射到各自对应的光电检测器。
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