[发明专利]磁头滑块的检查方法及检查装置无效
| 申请号： | 200710126487.8 | 申请日： | 2007-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN101101757A | 公开（公告）日： | 2008-01-09 |
| 发明（设计）人： | 藤井隆司 | 申请（专利权）人： | 新科实业有限公司 |
| 主分类号： | G11B5/455 | 分类号： | G11B5/455;G01N21/88 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 | 代理人： | 郝传鑫 |
| 地址： | 中国香港新界沙田香*** | 国省代码： | 中国香港;81 |
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| 摘要： | 本发明提供的磁头滑块检查方法是一种大致呈长方体形状的磁头滑块的检查方法，其包括如下步骤：将媒体相对面或成为媒体相对面的表面的第一表面之外的表面作为下表面而支撑所述磁头滑块，同时，将磁头滑块向上方移动，并停止在检查位置上的移动步骤(S2、S3)；利用预先将光轴对准检查位置而设置的第一相机检查第一表面的同时，利用预先将光轴对准检查位置而设置的第二相机检查不同于第一表面也不同于下表面的所述磁头滑块的第二表面的检查步骤(S4)。通过本发明可以抑制对磁头滑块的影响的同时有效地进行磁头滑块的外观检查。 | ||
| 搜索关键词： | 磁头 检查 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.检查大致呈长方体形状的磁头滑块的检查方法，其特征在于包括如下步骤：移动步骤，即，所述磁头滑块通过其第一表面之外的表面作为下表面而被支撑，其中，所述第一表面是媒体相对面或将成为媒体相对面的表面，同时，将所述磁头滑块向上方移动，并停止在检查位置上；及检查步骤，即，利用预先将光轴对准检查位置而设置的第一相机检查所述第一表面的同时，利用预先将光轴对准检查位置而设置的第二相机检查不同于所述第一表面也不同于所述下表面的所述磁头滑块的第二表面。
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