[发明专利]盘介质以及盘介质制造方法无效

专利信息
申请号: 200710127185.2 申请日: 2007-07-04
公开(公告)号: CN101118765A 公开(公告)日: 2008-02-06
发明(设计)人: 坂间功;芦泽实 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G11B7/24 分类号: G11B7/24;G06K19/067
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 曲瑞
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 盘介质1A在金属膜层形成区4的与金属膜层未形成区3的边界周缘部上搭载有IC芯片5。IC芯片5搭载于金属膜层4a的表面。在搭载有IC芯片5的位置的金属膜层4a上,形成了L字形的切口6A,IC芯片5的信号输入输出电极5a、5b连接至位于切口6A两侧的金属膜层4a。由此,在能够将金属膜层4a用作IC芯片5的天线的同时,还能够使IC芯片5的阻抗与利用金属膜层4a所形成的天线的阻抗相匹配。
搜索关键词: 介质 以及 制造 方法
【主权项】:
1.一种搭载有利用无线电波进行工作的IC芯片的盘介质,其特征在于:形成于所述盘介质上的金属膜层构成了所述IC芯片的天线;所述金属膜层具有用于使所述天线的阻抗与所述IC芯片的阻抗相匹配的阻抗匹配电路。
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