[发明专利]低光反馈噪声的自脉冲半导体激光器无效
申请号: | 200710129105.7 | 申请日: | 2007-07-11 |
公开(公告)号: | CN101106255A | 公开(公告)日: | 2008-01-16 |
发明(设计)人: | 小林正英 | 申请(专利权)人: | 恩益禧电子股份有限公司 |
主分类号: | H01S5/00 | 分类号: | H01S5/00;H01S5/323 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 关兆辉;陆锦华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种自脉冲半导体激光器,包括:形成在半导体衬底(101)上的下包层(103),形成在下包层上的有源层(105),形成在有源层上的第一上包层(107),形成在第一上包层上的第二上包层(109)和阻挡层(BLK)。第二上包层(109)具有台地结构(MS)。阻挡层(BLK)形成在第二上包层(109)的两侧上并包括其带隙大于有源层(105)的带隙的层。当执行自脉冲时,可饱和吸收器区(115)形成在增益区(114)的两侧上。第一上包层(107)的厚度d满足220nm≤d≤450nm的关系。可以在宽的温度范围内实现稳定的自脉冲。 | ||
搜索关键词: | 反馈 噪声 脉冲 半导体激光器 | ||
【主权项】:
1.一种自脉冲半导体激光器,包括:形成在半导体衬底上的下包层;形成在下包层上的有源层;形成在有源层上的第一上包层,其中该第一包层的厚度d满足220nm≤d≤450nm的关系;形成在第一上包层上并具有台地结构的第二上包层;以及阻挡层,其包括形成在台地结构两侧上的各层,其中这些层的带隙大于有源层的带隙。
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