[发明专利]一种制造变异势垒氮化镓场效应管的方法有效
申请号: | 200710133982.1 | 申请日: | 2007-10-26 |
公开(公告)号: | CN101145524A | 公开(公告)日: | 2008-03-19 |
发明(设计)人: | 薛舫时 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
主分类号: | H01L21/335 | 分类号: | H01L21/335 |
代理公司: | 南京君陶专利商标代理有限公司 | 代理人: | 沈根水 |
地址: | 210016江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明是一种制造变异势垒氮化镓场效应管的方法,其工艺为,在衬底上生长成核层,AlGaN缓冲层和GaN沟道层,再生长AlN隔离层和AlGaN势垒层;在AlGaN势垒层上覆盖厚GaN帽层来提高势垒高度:用氯基电感耦合等离子体干式腐蚀工艺减薄除栅下以外的GaN帽层提高下面沟道中的电子气密度,弱化强场峰;再光刻开窗腐蚀,在腐蚀出的AlGaN势垒层上制作源电极和漏电极,利用薄势垒和高电子气密度降低欧姆接触电阻;从而制成变异势垒场效应管。优点:本器件的栅电极直接制作在GaN帽层上,不挖槽,能显著降低栅流,改善可靠性。不制作场板电极,简化了工艺,又降低了寄生电容,提高了增益,有利于研制毫米波高频器件。 | ||
搜索关键词: | 一种 制造 变异 氮化 场效应 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制造变异势垒氮化镓场效应管的方法,其特征是该方法的工艺步骤分为,(1)在衬底上生长成核层,AlGaN缓冲层和GaN沟道层,再生长AlN隔离层和AlGaN势垒层,使沟道中产生高电子气密度;(2)在AlGaN势垒层上覆盖厚GaN帽层来提高势垒高度,增加势垒宽度,抑制栅流和降低沟道电子气密度,构成一种容易剪裁势垒结构的异质结材料:(3)用氯基电感耦合等离子体干式腐蚀工艺减薄除栅下以外的GaN帽层,截断栅电极上电子横向隧穿到GaN帽层的通路,降低栅流;(4)利用减薄的GaN帽层来提高下面沟道中的电子气密度,减小沟道夹断时栅下沟道同减薄的GaN帽层下沟道间的电导率差,弱化强场峰;(5)再光刻开窗腐蚀完除栅下GaN帽层和减薄的GaN帽层以外的GaN帽层,提高电子气密度,降低沟道的串联电阻;在腐蚀出的AlGaN势垒层上制作源、漏欧姆接触源电极和漏电极,利用薄势垒和高电子气密度降低接触电阻。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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