[发明专利]测定身体部位的正电子发射测量信息的方法及所属装置有效
| 申请号： | 200710137980.X | 申请日： | 2007-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN101077303A | 公开（公告）日： | 2007-11-28 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·克里格;罗恩·格雷齐奥索 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 在正电子发射断层造影范畴内测定与至少一个周期性运动过程有关的身体区域的正电子发射测量信息的方法，包含步骤：在要检查的区域中进行正电子发射测量以测定功能的正电子发射测量信息，与正电子发射测量同时地用高时间分辨率的解剖成像方法、尤其计算机断层造影方法在至少一个测量时间段内将要检查的身体区域的解剖测量信息采集限制在一个拍摄面上，用解剖成像方法以高时间分辨率在至少一个运动过程周期内采集解剖参考测量信息的完整四维数据组并根据解剖成像方法的属于正电子发射测量的测量时间段的限制于拍摄面上的解剖测量信息与所述四维解剖参考测量信息的比较，使所述测量时间段的正电子发射测量信息与相应解剖参考测量信息对应。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 身体 部位 正电子 发射 测量 信息 方法 所属 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于在正电子发射断层造影范畴内测定受检对象的与至少一个周期性运动过程有关的身体区域的正电子发射测量信息的方法，包含步骤：在受检对象的要检查的身体区域中进行正电子发射测量以测定功能正电子发射测量信息，与正电子发射测量同时地用一种具有高时间分辨率的解剖成像方法，尤其是用一种计算机断层造影方法在至少一个测量时间段内将要检查的身体区域的解剖测量信息采集限制在一个拍摄面上，用解剖成像方法以较高的时间分辨率在至少一个运动过程周期内采集解剖参考测量信息的完整四维数据组并且根据所述解剖成像方法的属于正电子发射测量的测量时间段内的限制于拍摄面上的解剖测量信息与所述四维解剖参考测量信息的比较，使所述测量时间段的正电子发射测量信息与相应的解剖参考测量信息对应。
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