[发明专利]电路测试装置无效
| 申请号： | 200710138738.4 | 申请日： | 2007-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN101369399A | 公开（公告）日： | 2009-02-18 |
| 发明（设计）人： | 滕贞勇;陈弘伟 | 申请（专利权）人： | 普诚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/20 | 分类号： | G09G3/20;G09G3/36;G01R31/28;G01R31/3177;G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭露一种电路测试装置，用来测试一待测试元件。电路测试装置包括有一功能产生模块、一信号量测模块以及一判别模块。功能产生模块耦接于该待测试元件，用来依据一预定方式，提供多个测试信号。信号量测模块耦接于该待测试元件以及该功能产生模块，用以依据该预定方式，量测该待测试元件依据该多个测试信号所产生的多个量测信号，产生多个量测结果。判别模块耦接于信号量测模块，用以依据该多个量测结果，决定该待测试元件的测试结果。本发明所述的电路测试装置，可以有效的节省所需的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电路测试装置，其特征在于，用来测试一待测试元件，该电路测试装置包括有：一功能产生模块，耦接于该待测试元件，用来依据一预定方式，提供多个测试信号；一信号量测模块，耦接于该待测试元件以及该功能产生模块，用以依据该预定方式，量测该待测试元件依据该多个测试信号所产生的多个量测信号，产生多个量测结果；以及一判别模块，耦接于信号量测模块，用以依据该多个量测结果，决定该待测试元件的测试结果。
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