[发明专利]一种制备铟柱的方法有效
申请号: | 200710139334.7 | 申请日: | 2007-09-03 |
公开(公告)号: | CN101132034A | 公开(公告)日: | 2008-02-27 |
发明(设计)人: | 冯震;杨孟丽 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/60 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 | 代理人: | 张明月 |
地址: | 050051河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种制备铟柱的方法,它应用于半导体器件和电路制备工艺。本发明的方法包括工艺流程为芯片处理、前烘、涂胶、对位、曝光、显影、坚膜的正性胶光刻工艺以及工艺流程为芯片处理、装片、抽真空、蒸发、取片、剥离的电子束蒸发铟膜和微超声剥离技术,在进行涂胶工序时,在正性胶涂层中间制备一层金属膜或者其它介质膜,使涂层成为“正性胶厚层-介质或金属膜-正性胶薄层”的结构;然后将上层的薄胶光刻成图形,再用湿法腐蚀掉图形窗口内的介质或金属膜,最后将底层的厚胶通过显影方法去除干净并采用电子束蒸发铟膜、铟膜微超声波剥离技术对铟膜进行剥离。采用本发明的技术制备的铟柱的形貌的精确度明显高于用现有技术制备的铟柱的形貌。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制备铟柱的方法,包括工艺流程为芯片处理、前烘、涂胶、对位、曝光、显影、坚膜的正性胶光刻工艺以及工艺流程为芯片处理、装片、抽真空、蒸发、取片、剥离的电子束蒸发铟膜和微超声剥离技术,其特征在于:在进行正性胶光刻工艺涂胶工序时,在正性胶涂层中间制备一层金属膜或者其它介质膜,使涂层成为“正性胶厚层-介质或金属膜-正性胶薄层”的结构;然后将上层的薄胶光刻成图形,腐蚀掉图形窗口内的介质或金属膜,再将底层的厚胶通过显影方法去除干净;然后采用电子束蒸发铟膜,并采用铟膜微超声波剥离技术对铟膜进行剥离。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
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