[发明专利]使用无机氧化物磨料提高铜的平面化的组合物和方法无效
申请号: | 200710141292.0 | 申请日: | 2007-08-06 |
公开(公告)号: | CN101121865A | 公开(公告)日: | 2008-02-13 |
发明(设计)人: | T·M·托马斯 | 申请(专利权)人: | 罗门哈斯电子材料CMP控股股份有限公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02;C09G1/16;H01L21/304 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 沙永生 |
地址: | 美国特*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供了一种可以在小于20.68千帕的向下压力之下抛光半导体晶片上的铜的水性组合物,所述水性组合物包含0.1-15重量%的氧化剂、0.001-5重量%的用于有色金属的抑制剂、0.001-10重量%的用于有色金属的络合剂、0.01-5重量%的羧酸聚合物、0.01-5重量%的改性纤维素、0.001-10重量%的含磷化合物、以及0.001-10重量%的勃姆石磨料,所述勃姆石加快了铜的平面化速率。 | ||
搜索关键词: | 使用 无机 氧化物 磨料 提高 平面化 组合 方法 | ||
【主权项】:
1.一种可以在小于20.68千帕的向下压力之下抛光半导体晶片上的铜的水性组合物,所述水性组合物包含0.1-15重量%的氧化剂、0.001-5重量%的用于有色金属的抑制剂、0.001-10重量%的用于有色金属的络合剂、0.01-5重量%的羧酸聚合物、0.01-5重量%的改性纤维素、0.001-10重量%的含磷化合物、以及0.001-10重量%的勃姆石磨料,所述勃姆石加快了铜的平面化速率。
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