[发明专利]测试芯片座无效
| 申请号： | 200710141780.1 | 申请日： | 2007-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN101131399A | 公开（公告）日： | 2008-02-27 |
| 发明（设计）人： | 大仓喜洋 | 申请（专利权）人： | 雅马哈株式会社 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 葛青;王冉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种测试芯片座，包括固定到测试器基板上的接触块，安装到接触块上的托盘，托盘具有将被测目标芯片定位到多个安装位置的凸出部分，以及多个探针，该多个探针的每一个都由接触块保持并接触测试器基板和被测目标芯片，其中当装有多个被测目标芯片的托盘被固定到接触块上时，每一探针与安装在安装位置上的每个被测目标芯片的端子接触。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 芯片 | ||
【主权项】：
1.一种测试芯片座，包括：固定到测试器基板上的接触块；安装到接触块上的托盘，该托盘具有：凸出部分，用于将被测目标芯片定位到多个安装位置上；和多个探针，每一个探针都由接触块保持并接触测试器基板和被测目标芯片，其中当装有多个被测目标芯片的托盘固定到接触块上时，每个探针都与安装在安装位置上的每个被测目标芯片的端子接触。
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