[发明专利]光学元件,光学扫描装置,以及成像设备有效

专利信息
申请号: 200710142338.0 申请日: 2007-08-14
公开(公告)号: CN101126819A 公开(公告)日: 2008-02-20
发明(设计)人: 木村友纪;林英一;山中康生 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G02B3/00 分类号: G02B3/00;G02B5/08;G02B5/00;G03G15/04;B41J2/47
代理公司: 上海市华诚律师事务所 代理人: 徐申民
地址: 日本国东京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种具有光学表面和在不同于该光学表面的表面上的至少三个凸部的光学元件,其中,在所述至少三个凸部中,中心之间的间距最大的两个凸部和从中心到连接两个凸部中心的直线的垂线长度最大的一个凸部满足关系tan-1(h/p)≤第一规格值,其中h是以位于垂线垂足位置的光学元件的切面为基准,在位于两个凸部中心的光学元件的高度中较大的高度,p是垂线的长度,或者一种具有光学表面和在不同于所述光学元件的表面上的至少三个凸部的光学元件,其中,在所述至少三个凸部中间,中心之间的间距最大的两个凸部的中心和从中心到连接两个凸部中心的直线的垂线长度最大的一个凸部的中心被定位在以具有所述至少三个凸部的表面的重心为中心并半径为L/2的第一圆内或者在第一圆上,并且L是在连接两个凸部中心的直线方向上的光学元件的长度。
搜索关键词: 光学 元件 扫描 装置 以及 成像 设备
【主权项】:
1.一种具有光学表面和在不同于该光学表面的表面上的至少三个凸部的光学元件,其特征在于,在所述至少三个凸部中,中心之间的间距最大的两个凸部和从中心到连接所述两个凸部中心的直线的垂线长度最大的一个凸部满足关系tan-1(h/p)≤第一规格值,其中h是以位于所述垂线垂足位置的光学元件的切面为基准,在位于所述两个凸部中心的光学元件的高度中较大的高度,p是所述垂线的长度。
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