[发明专利]相变化存储器及其制造方法无效
申请号: | 200710142372.8 | 申请日: | 2007-08-22 |
公开(公告)号: | CN101373814A | 公开(公告)日: | 2009-02-25 |
发明(设计)人: | 林永发;王德纯 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院;力晶半导体股份有限公司;南亚科技股份有限公司;茂德科技股份有限公司;华邦电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00;G11C11/56 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 彭久云;许向华 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种相变化存储器及其制造方法。该相变化存储器包含相变化材料层,其中该相变化材料层具有凹陷部;以及加热源,其中该加热源具有延伸部,其中该加热源的延伸部楔入该相变化材料层的凹陷部。 | ||
搜索关键词: | 相变 存储器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种相变化存储器元件,包括:相变化材料层,其中该相变化材料层具有凹陷部;以及加热源,其中该加热源具有延伸部,其中该加热源的延伸部楔入该相变化材料层的凹陷部。
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