[发明专利]光学测孔内螺旋导轨旋转角度的方法无效

专利信息
申请号: 200710142860.9 申请日: 2007-08-01
公开(公告)号: CN101109625A 公开(公告)日: 2008-01-23
发明(设计)人: 徐春广;肖定国;冯忠伟;朱文娟;郝娟;周世圆 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 北京华夏正合知识产权代理事务所 代理人: 韩登营;王檬
地址: 100081北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种光学测孔内螺旋导轨旋转角度的方法,该方法以非接触的方式,准确且便利地测量孔内螺旋导轨。该方法包括以下步骤:a.将激光发生器按与待测孔同轴的方式放入该待测孔内,并使之工作;b.利用与待测孔同轴配置的光拾取元件拾取图像,并制作模板;c.沿待测孔轴向,同时移动激光发生器和光拾取元件;d.再次拾取图像,并与上述模板对比,记录对比数据;e.进行一次以上的上述步骤c和d之后,通过得到的上述数据,得到螺旋导轨的相关参数。
搜索关键词: 光学 测孔内 螺旋 导轨 旋转 角度 方法
【主权项】:
1.一种光学测孔内螺旋导轨旋转角度的方法,其特征在于,包括以下步骤:a、将激光发生器按与待测孔同轴的方式放入该待测孔内,并使之工作;b、利用与待测孔同轴配置的光拾取元件拾取图像,并制作模板;c、沿待测孔轴向,同时移动激光发生器和光拾取元件;d、再次拾取图像,并与上述模板对比,记录对比数据;e、进行一次以上的上述步骤c和d之后,通过得到的上述数据,得到螺旋导轨的参数。
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