[发明专利]粒子分析装置用光学系统及用此光学系统的粒子分析装置

摘要

本发明提供一种小型化的粒子分析装置用光学系统和使用此光学系统的粒子分析装置。本发明提供的粒子分析装置用光学系统包括：光源、用光源光照射通过流动室的粒子的照射光学单元、收集上述粒子发出光的光传感器、阻断光源射入光传感器的直接光的遮光件和将上述粒子发出光射入上述光传感器的聚光镜。上述照射光学单元将光源光聚焦于通过流动室的粒子形成第一焦点，将光源光聚焦于上述聚光镜和光传感器之间形成第二焦点。上述遮光件配置于上述第二焦点位置。

主权项

1.一种粒子分析装置用光学系统，包括：光照通过流动室的粒子的光源；收集粒子发出光的光传感器；配置于流动室和光传感器之间、将粒子发出光投射到光传感器的聚光镜；配置于聚光镜和光传感器之间、阻断光源射入光传感器的直接光的遮光件；以及配置于光源和流动室之间、在粒子通过的流动室形成第一焦点、在遮光件形成第二焦点的照射光学单元。