[发明专利]温度检测电路及半导体装置有效

专利信息
申请号: 200710143728.X 申请日: 2007-08-02
公开(公告)号: CN101118188A 公开(公告)日: 2008-02-06
发明(设计)人: 西村浩一 申请(专利权)人: 恩益禧电子股份有限公司
主分类号: G01K7/01 分类号: G01K7/01;G01K1/00;G01K1/20
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 孙志湧;陆锦华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种能够准确检测温度的温度检测电路及半导体装置。温度检测电路10包括串联连接的一组二极管11、连接到该组二极管11的恒定电流源I1、BGR电路13、用于放大BGR电压的放大器14、以及用于从作为放大器14的输出的基准电压减去由该组二极管11所产生的比较电压VD的加法器12、用于将加法器12的输出电压转换成电流的电压电流转换器15、以及用于将其输出电流转换成电流的电阻器R2。该基准电压VA2是由在预定温度T1下与比较电压VD相同的电压放大的BGR电压VBGR。
搜索关键词: 温度 检测 电路 半导体 装置
【主权项】:
1.一种温度检测电路,包括:一个或多个二极管,其串联连接;恒定电流源,其连接到所述一个或多个二极管;以及输出单元,用于根据由所述一个或多个二极管产生的比较电压与基准电压的电压差,输出电压或电流。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于恩益禧电子股份有限公司,未经恩益禧电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710143728.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top