[发明专利]射频通路的测试方法和测试设备有效
| 申请号： | 200710143848.X | 申请日： | 2007-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN101110655A | 公开（公告）日： | 2008-01-23 |
| 发明（设计）人： | 高雷 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 逯长明 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了射频通路的测试方法，获取测试信号的频率；构建由抵消电路与天线相关电路组成的在测试信号频率上发生并联谐振的并联电路；获取射频通路的测试信号，对测试信号进行测试。本发明进一步公开了测试设备。本技术方案构建由抵消电路与天线相关电路组成的发生并联谐振的并联电路，使得天线相关电路的阻抗最大，降低天线相关电路对测试信号的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 通路 测试 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种射频通路的测试方法，其特征在于，包括：获取测试信号的频率；构建由抵消电路与天线相关电路组成的在所述测试信号频率上发生并联谐振的并联电路；获取射频通路的测试信号，对所述测试信号进行测试。
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