[发明专利]X射线检查装置有效

专利信息
申请号: 200710143896.9 申请日: 2001-11-07
公开(公告)号: CN101105464A 公开(公告)日: 2008-01-16
发明(设计)人: 嶌田征浩;株本隆司;佐藤宏和;广濑修 申请(专利权)人: 株式会社石田
主分类号: G01N23/18 分类号: G01N23/18
代理公司: 北京北翔知识产权代理有限公司 代理人: 钟守期;杨勇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供在使用中能够减少因X射线照射器或X射线行传感器不能再使用而造成的突然事件的X射线检查装置,该X射线检查装置10是用X射线检查物品的装置,具有照射X射线的X线源13、X线传感器14和检查水平文件25a。上述X线源照射X线传感器14检测来自上述X线源13的射线。上述检查水平文件25a存储上述X线传感器14的检测水平随时间的变化。
搜索关键词: 射线 检查 装置
【主权项】:
1.一种使用X射线检查物品的X射线检查装置,该装置具有:照射X射线的X射线源;检测来自所述X射线源的X射线的X射线行传感器;存储器,其存储暗度检测水平、亮度检测水平、以及所述亮度检测水平和所述暗度检测水平之间的差以及它们随时间的变化,其中,暗度检测水平是在从所述X射线源向X射线行传感器不照射X射线的状态下的所述X射线行传感器的检测水平,亮度检测水平是在从所述X射线源向X射线行传感器照射X射线的状态下的所述X射线行传感器的检测水平;显示器,其用于显示存储在所述存储器中的所述暗度检测水平、亮度检测水平和所述亮度检测水平和所述暗度检测水平之间的差的现在值以及各检测水平随时间的变化中的至少一个参数量,其特征在于,还具备警告控制装置,根据所述暗度检测水平随时间变化的数据,判断能否使用所述X射线行传感器。
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