[发明专利]成像系统及像素缺陷校正装置无效
| 申请号： | 200710144183.4 | 申请日： | 2007-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN101222580A | 公开（公告）日： | 2008-07-16 |
| 发明（设计）人： | 角谷彰规 | 申请（专利权）人： | 索尼株式会社 |
| 主分类号： | H04N5/217 | 分类号： | H04N5/217 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 郭定辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 在此公开了一种成像系统，包括：成像装置；用于对该成像装置的光接收部件遮光的遮光装置；构造为检测和校正该成像装置的有缺陷的像素的像素缺陷校正部件；构造为处理由该像素缺陷校正部件校正的像素信号的信号处理部件；以及用于根据通过该像素缺陷校正部件获得的信息来控制该信号处理部件和该遮光装置的控制装置；其中该像素缺陷校正部件具有计时装置，且利用该计时装置来测量操作时间以估计二次缺陷计数。 | ||
| 搜索关键词： | 成像 系统 像素 缺陷 校正 装置 | ||
【主权项】：
1.一种成像系统，包括：成像装置；遮光装置，用于对该成像装置的光接收部件遮光；像素缺陷校正部件，构造为检测和校正该成像装置的有缺陷的像素；信号处理部件，构造为处理由该像素缺陷校正部件校正的像素信号；以及控制装置，用于根据通过该像素缺陷校正部件获得的信息来控制该信号处理部件和该遮光装置；其中该像素缺陷校正部件具有计时装置，且利用该计时装置来测量操作时间以估计二次缺陷计数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于索尼株式会社，未经索尼株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200710144183.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：安全模块中的订户身份模块能力的追溯实现
- 下一篇：水平的电缆管理器
